| 管理区域 | 第1評価値< 2.5pg-TEQ/m3 |
第2評価値≦ 2.5pg-TEQ/m3≦ 第1評価値 |
第2評価値> 2.5pg-TEQ/m3 |
|
| B測定値 2.5pg-TEQ/m3 |
第1 | 第2 | 第3 | |
| 2.5pg-TEQ/m3 ≦B測定値≦ 3.75pg-TEQ/m3 |
第2 | 第2 | 第3 | |
| 3.75pg-TEQ/m3 <B測定値 |
第3 | 第3 | 第3 | |
| ↓ | ||||
| ダイオキシン(DXN)汚染サンプリング調査 | ||||
| ↓ | ||||
| 保護具に係る管理区分の決定 | ||||
| 作業中に、連続して粉じん測定を行う場合 | ||||
| 同上表を転用 | ||||
| 作業中に、連続して粉じん測定を行わない場合 | ||||
| 管理区域 | 上表の第1管理区域 | 上表の第2管理区域 | 上表の第3管理区域 | |
| d<3000pg-TEQ/g | 第1 | 第2 | 第3 | |
| 3000≦d<4500pg-TEQ/g | 第2 | 第2 | 第3 | |
| 4500pg-TEQ/gd | 第3 | 第3 | 第3 | |
| *以下のいずれかに該当する場合には、保護具選定に係る第3管理区域 | ガス状ダイオキシン類の発生する恐れのある作業 | |||
| 解体対象設備のダイオキシン類汚染状況が不明の場合 | ||||